PL980近紅外二區(qū)熒光測量系統(tǒng)

PL980近紅外二區(qū)熒光測量系統(tǒng)

PL980 近紅外二區(qū)熒光測量系統(tǒng)專為納米材料的熒光光譜分析研究設計開發(fā)，具備高穩(wěn)定性、高靈敏度、重現(xiàn)性好、測量速度快的核心特點，采集效率與可靠性優(yōu)異，可廣泛應用于通訊、化工、生物醫(yī)療、材料分析等多個領域。

核心優(yōu)勢

l    靈敏度突出：相對于傳統(tǒng) 90° 熒光測量方式，檢測靈敏度提升 100 倍。

l    性能穩(wěn)定：激光功率穩(wěn)定性≤3% P-P（@2hrs），重現(xiàn)性好，保障檢測數(shù)據(jù)可靠。

l    測量高效：測量速度快，采集效率高，滿足科研與應用中的快速分析需求。

l    適配性強：支持定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)，可匹配不同檢測場景需求。

產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

典型圖譜

樣品：PbS量子點

測試條件：積分時間為100 ms，激光功率為500 mW

樣品：量子點

測試條件：積分時間為700 ms，激光功率為500 mW

應用領域

l   稀土發(fā)光材料研究：精確測量稀土發(fā)光材料的發(fā)光性能，為材料設計與合成提供關鍵數(shù)據(jù)支持。

l   多行業(yè)適配：適用于生物醫(yī)學、防偽技術、照明與顯示、新能源、環(huán)境監(jiān)測等多個行業(yè)。

摻雜不同含量Tm的稀土納米顆粒樣品譜圖