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Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片

簡要描述：Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片將 900 - 1070 nm 之間的近紅外 (NIR) 光轉換為發射波長為 550 和 660 nm 的可見光。這些摻雜納米晶體的玻璃濾光片可在 1064nm 處發出低至 30mW/mm2 入射光的可見光，而不會出現光暈或需要預充電。

產品品牌：其他品牌
廠商性質：代理商
更新時間：2022-05-25
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品牌	其他品牌	價格區間	面議
組件類別	光學元件	應用領域	醫療衛生,環保,化工,電子/電池

Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片

將近紅外光轉換為可見光
30mW/mm2 @ 1064nm 發射的最小靈敏度
用于高功率應用的激光檢測卡的理想替代品
還提供用于將紫外線轉換為可見光的熒光玻璃濾光片

Edmund 近紅外 (NIR) 檢測YAGLASS-T濾光片將 900 - 1070 nm 之間的近紅外 (NIR) 光轉換為發射波長為 550 和 660 nm 的可見光。這些摻雜納米晶體的玻璃濾光片可在 1064nm 處發出低至 30mW/mm2 入射光的可見光，而不會出現光暈或需要預充電。玻璃的高透明度允許輕松查看光束大小、形狀和模式。 NIR 檢測 YAGLASS-T 濾光片具有 51 J/cm2 @ 1064nm、10ns 的高損傷閾值，使其成為具有 Nd:YAG、Nd:摻雜和 Yb 在內的 NIR 激光器的高功率激光應用中激光檢測卡的理想替代品：摻雜激光器。 NIR 檢測 YAGLASS-T 濾光片有標準 12.5 和 25mm 直徑尺寸可供選擇；如果您的應用需要自定義尺寸，請聯系我們。

通用規格

基底:	YAGLASS-T	厚度 (mm):	3.00 ±0.10
激發波長 (nm):	900 - 1070	鍍膜:	Uncoated
峰值發射波長 (nm):	550, 660	折射率 n_d:	1.539
最/低靈敏度:	30 mW/mm²@ 1064nm	轉變溫度 (°C):	584
損傷閾值脈沖:	51 J/cm²@ 1064nm, 10ns